局部放电检测仪检测缺陷部位和缺陷类型判断的依据是什么?
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发布时间：2022-05-12 17:41
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时间：2023-11-04 13:08
局部放电检测仪检测缺陷部位和缺陷类型判断的依据是什么？
一、局部放电检测仪(又称局部放电检测仪)缺陷判断依据
(1)多传感器定位
利用时间延迟法实现空间定位，利用多个传感器同时在疑似故障位置进行测量，以信号最先到达的传感器作为触发信号源，从而得到超声波从放电源到各个传感器的传播时间。根据超声波在设备介质中的传播速度和方向，可以确定放电源的空间位置。
(2)单传感器定位
移动传感器，测试气室的不同部位，找到信号的大点，对应的位置就是缺陷点。使用两种方法来判断缺陷是在储罐上还是在中心导体上。
首先，通过调整测量频带。带通滤波器的测量频率从100kHz降低到50kHz。如果信号幅度明显减小，缺陷位置应该在壳体上。如果信号电平基本不变，那么缺陷位置应该在中心导体上。
第二，如果信号电平的大值出现在储罐表面的圆周方向上的大范围中，则缺陷位置应该在中心导体上。如果大值出现在特定点，那么缺陷位置应该在壳体上。
二、局部放电检测仪缺陷类型判断依据
(1)游离金属颗粒
对于运行中的设备，粒子信号的幅度:背景噪声。
(2)电晕放电
一般毛刺在外壳上，但导体上的毛刺危害更大。只要信号高于背景值，就是有害的。应该根据工况来处理。如果在耐压过程中发现毛刺放电现象，即使低于标准值也要进行处理。
(3)悬浮电位
电位悬浮一般发生在断路器气室屏蔽松动、PT/CT气室绝缘支撑松动或偏移、母线气室绝缘支撑松动或偏移、气室连接处接头偏移或螺栓松动等情况下。只要设备内部形成潜在悬浮，就很危险。应加强监测，有条件的应及时治疗。对于126kV GIS，如果100Hz信号的幅值远大于50Hz信号的幅值，且V峰大于10 mV，则应缩短检测周期，并密切监视其增长情况。如果Vpeak>20mV，应切断电源。对于363千伏和550千伏及以上设备，应提高标准。
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时间：2023-11-04 13:08
（1）多传感器定位
利用时延方法实现空间定位，在疑似故障部位利用多个传感器同时测量，并以信号首先到达的传感器作为触发信号源，就可以得到超声波从放电源至各个传感器的传播时间。再根据超声波在设备媒质中的传播速度和方向，就可以确定放电源的空间位置。
（2）单传感器定位
移动传感器，测试气室不同的部位，找到信号的大点，对应的位置即为缺陷点，通过两种方法判断缺陷在罐体或中心导体上。
方法一，通过调整测量频带的方法。将带通滤波器测量频率从100kHz减小到50kHz。如果信号幅值明显减小，则缺陷位置应在壳体上。信号水平基本不变，则缺陷位置应在中心导体上。
方法二，如果信号水平的大值在罐体表面周线方向的较大范围出现，则缺陷位置应在中心导体上。如果大值在一个特定点出现，则缺陷位置应在壳体上。
二、局部放电检测仪缺陷类型判断依据
（1）自由金属微粒
对于运行中的设备，微粒信号的幅值：背景噪声。
（2）电晕放电
毛刺一般在壳体上，但导体上的毛刺危害更大，只要信号高于背景值，都是有害的，应根据工况酌情处理，在耐压过程中发现毛刺放电现象，即便低于标准值，也应进行处理。
（3）悬浮电位
电位悬浮一般发生在断路器气室的屏蔽松动，PT/CT气室绝缘支撑松动或偏移，母线气室绝缘支撑松动或偏移，气室连接部位接插件偏离或螺栓松动等，设备内部只要形成了电位悬浮，就是危险的，应加强监测，有条件就应及时处理。对于126kV GIS，如果100Hz信号幅值远大于50Hz信号幅值，且Vpeak＞10mV，应缩短检测周期并密切监测其增长量。如果Vpeak＞20mV，应停电处理；对于363kV和550kV及以上设备，应提高标准。
回复者：华天电力
