发布网友 发布时间:2022-04-27 11:56
共3个回答
热心网友 时间:2023-09-16 19:16
这个是可以测成分的,牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。热心网友 时间:2023-09-16 19:16
扫描电镜只能观察分散情况或者微观结构等,不能测量成分的热心网友 时间:2023-09-16 19:17
不可以,只能看表面形貌和晶粒的大小