电波暗室10米法和3米法的差别
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发布时间：2024-05-01 20:32
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时间：2024-05-10 17:02
在EMI电波暗室的辐射测试中，两种主要的测试模式——10米法和3米法，其核心在于发射天线与接收天线之间的距离差异。CISPR32标准采用10米法作为基础，然而3米法由于测试距离的缩短，测得的辐射值会相对较高，因此规格值需要适度放宽。据统计，两者在所有频率上的数据差异大约为10分贝。
这个差距源于无线电波的特性——随着距离增加，电场强度按指数衰减。具体来说，当使用微偶极子作为波源时，电场强度受辐射电磁场、感应电磁场和静电场三个因素影响。其中，静电场与距离的1/r3成正比，感应电磁场（近场）与1/r2相关，而远场辐射电磁场遵循1/r的衰减规律。在10米法中，电场强度比3米法弱10.46分贝，即约等于10分贝。
尽管在30MHz最低频率下，10米法与3米法的远场辐射电磁场基本不受影响，但在实际测试中，金属地板的反射效应和接收天线高度模式的变化都会对结果产生显著影响。10米法和3米法在测量不同高度时，反射波的相位差显著不同，天线的方向性对测试结果也有显著影响。例如，对数周期天线在正面的接收灵敏度高于侧面，这在10米法和3米法中的辐射路径和入射角上有所体现。
值得注意的是，测试样品的外形尺寸对测试数据的影响不容忽视。在测试过程中，天线距离的选择是基于测试品外壳的考虑。当测试品尺寸较大时，辐射中心位置与天线的距离差异可能导致相位差的显著变化。例如，在照明设备中，由于尺寸不同，直波和反射波的相位差在10米法和3米法中表现得更为显著，这对测试结果的准确性和标准化提出了更高的要求。
综上所述，10米法和3米法在电波暗室辐射测试中，不仅受到无线电波衰减规律的影响，还受到接收天线设置、反射效应、天线方向性和测试样品尺寸等多种因素的综合作用，这些因素共同决定了两者测试结果的差异和测试规格值的设定。
