三次元测圆怎么找圆心

发布网友发布时间：2022-05-19 00:35

共1个回答

热心网友时间：2023-11-24 17:37

短圆弧(一般为30_以下圆心角所对应的圆弧)的测量在实际测量中有许多应用，如测量样板、异形零件等。常用的非完整圆弧半径测量方法包括圆弧样板法、卡尺法和弓高弦长法等，这些方法的精度、量程、特点和应用场合不同。圆弧样板法仅用于检验圆弧半径是否在公差带范围内；卡尺法适用于精度不高的场合，测量范围受弧长的*，卡尺量程受横向定位架的*；而弓高弦长法的操作比较繁琐。上述方法一般只用于对工件做静态的离线测量。短圆弧测量的难点在于圆弧上的特征点数少，受到的噪声大。下面介绍用三坐标(CMM)对大半径短圆弧的测量方法。
从测量原理上讲，CMM直接测得的是被测工件上一些特征点的坐标位置，为了获得被测参数值，需要通过测量软件的数据处理和运算。因此，被测参数的测量精度主要与CMM的系统误差、测头系统误差、工件形状误差、算法误差、环境误差、采样策略和敏感系数等因素有关。而对于大半径短圆弧测量，采样策略和敏感系数对精度的影响更大。
以圆为例说明采样策略对测量结果的影响：图1实际圆形具有三叶形误差，当测量点在a、b、c三点时，测得的直径为最小；当测量点选择在A、B、C三点时，测得的直径最大，由于工件任意摆放，测得的可能是他们之间的任意值。这是被测元素形状误差对测量结果的影响。
图2为采样点对圆参数测量结果的影响，如果采样点选在A、B、C三点，测得的圆直径如图中圆3所示，如果选在A'、B'、C'三点，则测得的直径很大，如圆1所示；若在A'、C'两点的测量误差向外，而B'点的误差向内，测得的圆直径更大。