透射电镜TEM数据结果分析处理方法
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发布时间：2024-10-04 03:58
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时间：2024-10-20 19:56
透射电镜TEM数据结果分析处理方法
透射电镜（TEM）的数据分析通常涉及.tiff和.dm3两种格式。.tiff是图片格式，用于快速预览，而.dm3则包含丰富的原始信息，需借助Digital Micrograph等专业软件进行详细分析。
TEM的主要应用包括观察材料形貌和晶体结构分析。形貌观察选择清晰展示内部缺陷的图像，比例尺在20-200nm。晶体结构分析则分为HRTEM和SAED两部分：
HRTEM分析步骤
1. 使用Digital Micrograph打开.dm3文件，标卡标定可省略（如果已包含信息）。
2. 用画线工具测量标尺，确认5nm长度。
3. 量取10个晶格宽度，除以10得到晶格宽度，如0.2605nm。
4. 对比XRD数据，找到对应晶面，如PDF#36-1451。
5. 导出.dm3文件，以jpg格式标注晶格和晶面。
SAED分析
同样进行标卡标定，测量衍射点间距，取倒数得出晶面间距。
多晶与单晶材料处理略有不同，单晶需注意矢量叠加原则。
完成分析后，将信息标注在图上。
以上是基本的TEM数据处理流程，但请注意，所有内容仅供参考，实际操作时请依据具体设备和实验条件调整。如需进一步帮助，可联系18802087095的黎工。
