椭偏仪是测什么的
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发布时间:2024-08-08 08:47
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时间:2024-08-08 09:17
椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量设备。具体来说,椭偏仪可以测量以下参数:
1.薄膜厚度:椭偏仪能够准确测量薄膜的厚度,其测试范围广泛,可以从数埃(Angstrom)或数纳米到几微米,都具有极佳的准确性。
2.光学常数:
(1)折射率(n):椭偏仪能够测定材料的折射率,这对于理解材料的光学性能至关重要。
(2)消光系数(k):除了折射率,椭偏仪还能测量材料的消光系数,这是描述材料对光的吸收能力的重要参数。
3.材料微结构:椭偏仪还可以用于分析材料的微结构,通过测量反射光的偏振状态变化,可以获得关于材料内部结构和性质的信息。
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