ldmos器件的vgs小于vth,为什么vdsat还是大于0,ldmos饱和区
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发布时间:2024-10-15 08:57
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时间:2024-12-05 15:59
Vgs低于Vth约400mV时,LDMOS器件处于亚阈值状态,此时沟道并未完全阻断,具备一定程度的导电能力,随之而来的是饱和电压Vdsat。若将Vgs降低至0或-0.5V,观察现象变化。
值得注意的是,LDMOS器件的饱和特性呈现出有趣的现象。与低压CMOS不同,虽然二者皆因载流子速度饱和表现出饱和电流Ids与对应的Vdsat,但CMOS内的速度饱和点仅位于沟道末端。而在LDMOS中,速度饱和点则有两个,分别是沟道末端与漂移区接近Drain pickup区域。因此,LDMOS表现出准饱和特性,如下图所示。
对于上述现象的解析,可参考M. Darwish的论文(VDMOS的di-pole layer模型),国内微系统所王磊博士对LDMOS的深入分析,建议阅读相关研究。